服务&支持Services/Support
瑞奇戈德是专门从事X射线智能探伤系统的研发、生产和销售的高新技术企业，为客户个性化定制和开发各种工业X射线智能成像探伤装备，目前产品涵盖了航空、航天、铸造、汽车、高铁、核电、压力容器等多个工业射线无损探伤领域；
公司自成立以来，始终坚持“诚信立业”的经营理念；为客户提供满意的工业射线智能探伤装备作为我们的初心从未更改；由此我们聘请了多个高校的教授和相关行业专家作为公司的技术顾问，为客户提供精细的定制方案。
公司目前拥有多套实验装备，针对无人值守的X射线智能检测装备（ADR），可为客户提供售前样件测试，让客户再购买设备前可亲自体验先进的ADR技术、了解设备识别缺陷的能力。
瑞奇戈德专注致力于X射线智能探伤装备的研制，不遗余力的推动射线数字影像产业的发展，致力成为客户满意、社会认同和鲜明个性的科技企业。让我们以优质的产品、精湛的技术和有效的服务，来满足市场对智能设备不同的需要。
2021/12/30
坏像素列表文件
（一）|坏像素定义
通常将以下7种状态的像素定义为坏像素。
（a）死像素
指无响应的像素和响应不随射线剂量变化的像素。
（b）过响应像素
像素的灰度值大于其所在的21x21邻域中灰度中值1.3倍的像素。
（c）欠响应像素
像素灰度值小于21x21邻域中灰度中值0.6倍的像素。
（d）噪点像素
在30至100帧序列的无射线照射图像中，像素灰度值的标准偏差超过整个DDA标准偏差中值6倍的像素。
（e）不均匀像素
像素灰度值与9x9邻域的灰度平均值偏差超过±1%的像素。该测试在本底和增益修正图像上完成，要求平均灰度值达到或超过DDA线性范围的75%时进行测试。
（f）残影/延迟像素
X射线关闭后，像素灰度值超过了首个采集图像中9x9邻近内像素灰度中值2倍的像素。
（g）邻近坏点像素
像素的全部8个邻近像素均为坏点，也将视为坏点像素。
2021/12/14
2010年，瑞奇戈德针对锅炉行业首次推出“管屏DR检测技术”，经过10多年的发展，管屏DR检测设备已经遍地开花，技术非常成熟。支持各种产品定制！！
2021/12/30
探测器增益
探测器在使用过程中，面临的要求是多种多样的。有的使用场合要求检测图像获得高的信噪比，而另一些场合则需要低剂量。为此，部分探测器设计了可编程增益放大器来调节探测器的增益（Gain）。可编程增益放大器（PGA：Programmable Gain Amplifier)是一种通用性的放大器，其放大倍数可以根据需要用程序进行控制。采用这种放大器，可通过程序调节放大倍数，使A/D转换器满量程信号达到均一化，所谓量程自动转换就是根据需要对所处理的信号利用可编程增益放大器进行倍数的自动调节，以满足后续电路和系统的要求。
增益改变对探测器的特性影响可以用以下示意图来描述。
探测器增益调节，实质上改变了探测器的敏感性。增益提高，信号放大倍数增加，相同曝光量时探测器灰度值增加。也就是说探测器在两种不同的增益条件下，接受相同的曝光量而图像的灰度值不同。增益越大、敏感度提高、灰度值越大，曝光速度提高；反之亦然。所以，探测器增益调节，相当于改变了探测器的曝光速度（剂量的倒数）。一些探测器使用“pF”来表示增益，在这种情况下“pF”值越小，增益越大，曝光速度越快。需要曝光剂量小而图像质量要求不高时（如：医疗应用）可以提高探测器增益；对曝光量没有明确限制而要求高图像质量时应降低探测器增益。
2021/12/14
在无损检测和医疗诊断领域，探测器阵列由于成像区域大、图像几何畸变小、转换效率高、信噪比优良等特性，近年来得到了快速的发展。半导体阵列成像技术可以方便的实现数字化，所以这种成像技术经常被称之为射线数字成像技术，相应的射线探测器称为数字探测器阵列，简写为DDA。
一、结构特点
目前，大幅面、阵列式图像传感器主要是CMOS图像传感器和a-si：H TFT图像传感器。从CCD图像传感器的工作原理和制造成本考虑，不宜用作DDA的图像传感器.
1.图像传感器
CMOS图像传感器由于受晶圆直径的限制目前只能做到100mm×100mm的中等大小尺寸，制作更大尺寸的DDA时需要使用传感器拼接技术。两块传感器拼接，在连接区域不可避免的会存在像素缺失（至少缺1列或1行）；四块传感器拼接时，在中心区域会形成超过4个以上像素的“盲区”。因像素缺失和盲区的存在，会造成图像的纹理变形和区域信息丢失，如下图所示:
a）列丢失
b）行丢失探测器拼接引起的像素丢失
从理论上讲，这些丢失的像素可以视为坏像素，可以使用坏像素校正的方法进行弥补，但对细节检出的影响总是不能让人放心。
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